Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ds.knu.edu.ua/jspui/handle/123456789/3385
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorKiv, A. E.-
dc.contributor.authorSoloviev, V. N.-
dc.contributor.authorSemerikov, Serhii-
dc.contributor.authorСемеріков, Сергій Олексійовичuk_UA
dc.contributor.authorСемериков, Сергей Алексеевичuk_UA
dc.date.accessioned2021-06-21T15:01:45Z-
dc.date.available2021-06-21T15:01:45Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationKiv A. E. XII International Conference on Mathematics, Science and Technology Education / A. E. Kiv, V. N. Soloviev, S. O. Semerikov // XII International Conference on Mathematics, Science and Technology Education (ICon-MaSTEd 2020) 15-17 October 2020, Kryvyi Rih, Ukraine / eds. : A. E. Kiv, V. N. Soloviev, S. O. Semerikov // Journal of Physics: Conference Series. – 2021. – Vol. 1840. – Iss. 1. – Article 011001. – DOI : 10.1088/1742-6596/1840/1/011001.uk_UA
dc.identifier.issn1742-6596-
dc.identifier.urihttp://ds.knu.edu.ua/jspui/handle/123456789/3385-
dc.description.abstractThis paper represents a preface to the Proceedings of the XII International Conference on Mathematics, Science and Technology Education (ICon-MaSTEd 2020) held at the Kryvyi Rih State Pedagogical University, Ukraine, 15–17 October 2020. Background information and the organizational structure of the meeting, and acknowledgements of the contributions of the many people who made the conference a success are presented.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherIOP Publishinguk_UA
dc.subjectMathematics, Science and Technology Educationuk_UA
dc.titleXII International Conference on Mathematics, Science and Technology Educationuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/1840/1/011001-
local.submitter.emailsemerikov@ccjourn...uk_UA
Розташовується у зібраннях:Матеріали конференцій

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Kiv A. E. XII International Conference on Mathematics.pdfarticle1.03 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.